Skip to Main Content

Usługi badawcze w sieci VIA CARPATIA

Uslugi Badawcze

Nazwa Badania
Wyznaczanie parametrów defektów w materiałach półprzewodnikowych
Techniki
• bezpośredni pomiar zmian pojemności
Aparatura
• analizatory impedancji • mostek RLC • kriostaty helowe i azotowe • dedykowane oprogramowanie
Normy
-
Uczelnia
Politechnika Rzeszowska
Kontakt
prof. dr hab. inż. Andrzej Kolek tel.: 17 865 1114 e-mail: akoleknd@prz.edu.pl, akolekndakol@prz.edu.pl
Opis
Na stanowisku pomiarowym wykonywane są pomiary umożliwiające określenie koncentracji defektów oraz ich parametrów (przekrój czynny na wychwyt oraz energia aktywacji) w przyrządach półprzewodnikowych za pomocą metody DLTS tj. pomiaru zmiany pojemności w warunkach niestacjonarnych.
Slowa Kluczowe
pomiary koncentracji defektów