Skip to Main Content

Usługi badawcze w sieci VIA CARPATIA

Uslugi Badawcze

Nazwa Badania
Badanie z wykorzystaniem spektrometru fotoelektronów XPS K-Alpha
Techniki
• Rentgenowska spektroskopia fotoelektronów: analizy jakościowe i ilościowe wykonywane są w zakresie pierwiastków od boru do uranu podstawie rozmieszczenia różnych składników w próbce.
Aparatura
Spektrometr fotoelektronów XPS K-Alpha firmy Thermo Fisher Scientific: • analizator półkulisty z podwójnym ogniskowaniem 180° z detektorem 128-kanałowym, • źródło promieniowania rentgenowskiego — mikroskupiony monochromator Al Kα ze zmienną wielkością plamki, • pistolet jonowy (200-4000 eV), • kompensacja ładunku — podwójne źródło wiązki, • 4-osiowy stolik, obszar próbki 60x60 mm, maksymalna grubość próbki 20 mm, • opcje — moduł przenoszenia próżni, moduł przechyłu dla ARXPS, moduł odchylenia próbki.
Normy
-
Uczelnia
Politechnika Rzeszowska
Kontakt
dr hab. inż. Mirosław Tupaj, Prof. uczelni tel.: 17 743 26 07 e-mail:: mirek@prz.edu.pl
Opis
• możliwość analizy próbek typu: stopy metali, półprzewodniki, szkła, polimery, substancje organiczne, ceramika, oleje, • pomiar składu chemicznego (brak możliwości wykrycia wodoru i helu), • identyfikacja stanów chemicznych pierwiastków, rodzaju wiązań chemicznych, • oznaczenie zanieczyszczeń znajdujących się na powierzchni próbki, • istnieje możliwość wykorzystania trawienia jonowego i pomiaru kątowego zwiększającego możliwości pomiarowe.
Slowa Kluczowe
spektometr, fotoelektrony

Informacje o projekcie

Stopka
Minister Nauki

Zadanie finansowane w ramach zlecenia
Ministra Nauki pod nazwą "Politechniczna Sieć VIA CARPATIA im. Prezydenta RP Lecha Kaczyńskiego" w latach 2022-2025

MNiSW
Wersja: 0.1b Właścicielem i administratorem danych zawartych w bazie danych są uczelnie: Politechnika Rzeszowska, Politechnika Lubelska oraz Politechnika Białostocka. Zaprojektowanie witryny: Paweł Kuraś, Krzysztof Demidowski, Veronika Vanivska
Built with using Oracle APEX