Skip to Main Content

Usługi badawcze w sieci VIA CARPATIA

Uslugi Badawcze

Nazwa Badania
Analiza ilościowa składu pierwiastków śladowych od Na do U
Techniki
• spektrometria fluorescencji rentgenowskiej całkowitego odbicia (TXRF)
Aparatura
• spektrometr rentgenowski z całkowitym odbiciem wewnętrznym (TXRF) S2 PICOFOX Bruker
Normy
• NIST 1640 • PN-EN 15309:201P
Uczelnia
Politechnika Rzeszowska
Kontakt
dr hab. inż. Dorota Papciak, Prof. uczelni tel.: 17 865 13 01 e-mail: dpapciak@prz.edu.pl
Opis
Jednoczesne oznaczenie ilościowe pierwiastków śladowych od sodu (Na) do uranu (U) w próbkach ciekłych i zawiesinach bez mineralizowania. Jednoczesna analiza wielu składników znacząco ogranicza koszt i czas analiz. Standardowy czas pomiaru ~15 min. Rozdzielczość energetyczna poniżej 159 eV dla Mn-K. Wymagana objętość próbek rzędu 1-10 ml. Niski próg detekcji, poniżej ppb w zakresie nanogramów lub mikrogramów. Limit detekcji dla niklu (Ni) poniżej niż 10 pg.
Slowa Kluczowe
oznaczenia ilościowe pierwiastków